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高溫對(duì) LED 燈具的使用壽命和可靠性影響很大，熱量的集聚會(huì)導(dǎo)致LED 芯片溫度過(guò)高，損傷 pn 結(jié)，熒光粉也會(huì)加速老化，使燈具的整體壽命降低、光效下降。下面，
LED在高溫和電流應(yīng)力下，LED的封裝和透鏡都發(fā)生老化，顏色發(fā)黃、發(fā)光效率降低和色度參數(shù)特性發(fā)生變化，甚至失效。因此，LED的壽命跟工作條件關(guān)系緊密。針對(duì)LED
由于貼片式LED使用環(huán)境和條件各異，其燈珠在封裝完成后需進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)以驗(yàn)證性能。壽命測(cè)試是評(píng)估LED燈珠性能的重要環(huán)節(jié)，而高溫老化實(shí)驗(yàn)是其中的重要環(huán)節(jié)。高溫老
LED燈珠在封裝完成后都需要進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證其性能能否具備，在評(píng)估LED燈珠性能時(shí)，壽命測(cè)試是其重要的環(huán)節(jié)。為了經(jīng)濟(jì)快速的評(píng)估其壽命極限，我們?cè)O(shè)計(jì)了一種加速
led高溫壽命老化系統(tǒng)主要用于led的高溫老化實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，由于LED使用的環(huán)境和條件各不相同，因此LED燈珠在封裝完成后，都需要進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證其性能能否具備
為了實(shí)際工程對(duì)led進(jìn)行快速篩選和評(píng)價(jià)的需要，應(yīng)用高溫老化和光電性能測(cè)試的方法，對(duì)led燈具進(jìn)行了高溫老化試驗(yàn)并做了光電性能測(cè)試，分析其光電參數(shù)在老化過(guò)程中的變
高溫老化作為一種常用的老化測(cè)試手段模擬LED在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素，對(duì)LED產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程，模擬LED的工作過(guò)程，考察其性能
LED高溫應(yīng)力試驗(yàn)箱適用于梅花板表貼LED、鋁基板表貼LED、COB封裝等形式的LED燈珠，進(jìn)行高溫環(huán)境下的恒流功率試驗(yàn)、階梯電流老化試驗(yàn)、間歇電流老化試驗(yàn)以及
